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光学薄膜测量仪的主要特点和操作注意事项

发布时间:2022-06-02    点击次数:105
 
  光学薄膜测量仪主要用于电容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的电弱点测试,测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。该系列产品的主要元器件均选用进口品牌,有效地保证了设备的可靠性、耐用性和稳定性。测量准确,复现性好。测试过程采用电子技术全自动控制,遇到电弱点时电压切断动作迅速。击穿电流连续可调,复现性好。本机具备多重保护功能,充分考虑了操作人员及设备的安全性。如过压、过流、接地保护,试验平台门开启保护。
 
  光学薄膜测量仪的产品特点:
 
  微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
 
  严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
 
  测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
 
  支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
 
  系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
 
  实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
 
  配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
 
  系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
 
  标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
 
  光学薄膜测量仪的操作注意事项:
 
  1、试验结束后,必须切断电源。
 
  2、保持机器清洁,非试验用机时间,需用防尘布覆盖整个仪器。
 
  3、试验过程中要注意水平放置,测试时尽量减少人工干预。
 
  4、注意定期的维护与保养。
 
  5、如果仪器发生故障,操作人员在熟悉该设备使用手册及电器原理的基础上,须在售后服务人员的配合下方可进行常规的维修保养与故障排除,严禁客户擅自拆卸。
 
  6、设备精度校验间隔时间按照有关规范执行。

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