欢迎来到尤尼柯(上海)仪器有限公司网站!
网站导航
产品中心
当前位置:主页 > 产品中心 > > 光度计附件 > GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪

光学薄膜测量仪

简要描述:GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪——手机屏透过率检测系统是能快速准确地测量手机屏幕目的透光率以及各类平面光学元件的透射率,可用于实时在线检测,实现产品全检的仪器。

  • 产品型号:GL-SPM-D2T
  • 产       地:上海市
  • 更新时间:2021-05-25
  • 访  问  量:621
详细介绍
品牌自营品牌应用领域综合

尤尼柯(上海)仪器有限公司成立于1995年,是一家有20多年集科研、开发、销售、技术咨询服务于一体的规模化、专业化、集团化的高科技型企业。“质量可靠的产品、先进的服务理念”是尤尼柯至创立以来始终坚持奉行的服务理念,技术是尤尼柯永远的核心竞争力。

昂首开拓 精益求精

尤尼柯在英国、美国、中国设有专门的研发机构负责尤尼柯系列产品的开发和研制。我们将不断开拓进取,挑战更高的目标,努力为市场提供好产品。

优质管理 诚信服务

高质量的企业文化管理,发扬光大团结协作、勇于拼搏、爱岗敬业、大胆创新的精神,使我们在点滴中持之以恒。至高的诚信服务是我们一切商业行为的根本准则,我们训练有素的服务团队将为客户提供完善的售前、售中、售后服务。

GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪​——手机屏透过率检测系统是能快速准确地测量手机屏幕目的透光率以及各类平面光学元件的透射率,可用于实时在线检测,实现产品全检的仪器。

光学薄膜测量仪能快速准确地测量各类平面光学元件的透射率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于手机屏、手机膜、手机壳、眼镜、太阳镜、防晒保护膜的透光率测量,塑料制品的透光率测量,透明或半透明材料透光率测量/棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。

GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪规格参数:

项目

指标

备注

波长范围

190-800nm

取决于光栅

光谱分辨率

FWHM0.84@577μm狭缝

与波长和狭缝有关

杂散光

0.06%@532nm,0.045%@785

与波长有关

光源

20W卤素灯、氘灯

 

积分时间

8ms-15min

与CDD有关

电源

220V@50Hz

 

USB数据线

1.5m带有USBmini-B接头的数据线

 

光谱仪自动配置

自动配置包括读标定参数

 

数据输出

灰度值随波长或CCD像素变化(可选择)

 

尺寸

450mm*300mm*207mm

 

重量

6.5KG

 

工作温度

0℃~45℃

 

 

 


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
推荐产品

如果您有任何问题,请跟我们联系!

联系我们

版权所有©2022 尤尼柯(上海)仪器有限公司 备案号:沪ICP备05015892号-3 sitemap.xml 技术支持:化工仪器网 管理登陆

尤尼柯(上海)仪器有限公司(www.unicosh17.com.cn)主营:分光光度计、台式离心机

地址:上海漕河泾开发区

在线咨询 联系方式 二维码

服务热线

13761586502

扫一扫,关注我们